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基于 Silvaco 的 PN 结二极管仿真与特性分析

在微电子基础课程中,我们使用 Silvaco ATLAS 对 PN 结二极管进行了完整的器件建模与特性仿真,涵盖正向 I-V 特性、击穿特性、电场分布和能带结构分析。


一、仿真方法

在 ATLAS 中定义一维 PN 结结构:网格划分 → 区域定义 → 电极设置 → 掺杂分布 → 求解器配置。仿真脚本如下:

# 网格定义
mesh space.mult=1.0
x.mesh loc=0.00 spac=0.1
x.mesh loc=5.00 spac=0.1

# 区域与电极
region number=1 x.min=0 x.max=5 material=Silicon
electrode top name=anode
electrode bottom name=cathode

# 掺杂分布
doping uniform conc=5e+16 n.type
doping gaussian junction=1 conc=5e+17 n.type

# 输出结构
structure outfile=task3.str
tonyplot init

# 求解
method newton
log outfile=task3.log
solve vanode=0 vstep=0.05 vfinal=3.0 name=anode

# 可视化
tonyplot task3.log

关键参数:阳极电压从 0V 扫描至 3V(步长 0.05V),使用 Newton 迭代求解半导体方程。掺杂采用均匀本底掺杂(5×10¹⁶ cm⁻³)叠加高斯分布表面掺杂(5×10¹⁷ cm⁻³),形成单边突变结结构。


二、仿真结果

I-V 特性

正向 I-V 曲线完整呈现了二极管的典型行为:低偏压区电流极小(关断态),约 0.7V 后电流指数增长(导通态),符合理想二极管方程 I = I₀(e^(qV/kT) − 1) 的预测。不同掺杂浓度下的三条曲线对比,验证了掺杂对正向压降和导通电阻的影响。

PN结正向I-V特性曲线
Silvaco ATLAS 仿真结果:PN 结正向 I-V 特性曲线,三条曲线对应不同掺杂浓度下的电流-电压关系

掺杂分布与电场

PN结净掺杂浓度分布
净掺杂分布:左为 2D 彩色图谱(绝对净掺杂浓度),右为 1D 截面曲线——红线为受主浓度(Acceptor),绿线为施主浓度(Donor)

掺杂分布图清晰展示了 PN 结的空间电荷区:在冶金结附近,受主与施主浓度交叉,形成耗尽层。电场峰值位于结界面处,能带在该区域发生弯曲——这正是二极管单向导电性的物理根源。


三、总结

通过 Silvaco ATLAS 的完整器件仿真流程——网格定义 → 掺杂建模 → 数值求解 → 结果可视化——我们从物理层面理解了 PN 结的工作机制,而非仅停留在等效电路模型。代码可复用,调整掺杂浓度、结深等参数即可快速探索不同器件设计。

Author: Alan
Date:2026年06月11日

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